小型高低溫試驗(yàn)箱

      小型高低溫試驗(yàn)箱

      更新日期:2025-09-09

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      簡(jiǎn)要描述:艾思荔小型高低溫試驗(yàn)箱?制冷機(jī)采用法國(guó)“泰康"全封閉壓縮機(jī)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用多翼式送風(fēng)機(jī)送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),并可使開(kāi)門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立可提高 效率,降低測(cè)試成本,增長(zhǎng)壽命,減低故障率。

      詳細(xì)說(shuō)明:

      艾思荔小型高低溫試驗(yàn)箱制冷機(jī)采用法國(guó)“泰康"全封閉壓縮機(jī)。冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。采用多翼式送風(fēng)機(jī)送風(fēng)循環(huán),避免任何死角,可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì),風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),并可使開(kāi)門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立可提高 效率,降低測(cè)試成本,增長(zhǎng)壽命,減低故障率。

      高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):

      1、溫度范圍:(0℃、-20℃、-40℃、-70℃)~+150℃

      2、濕度范圍:20~98%RH

      3、溫度均勻度≤±2.0℃

      4、溫度波動(dòng)度≤±0.5℃

      5、濕度波動(dòng):+2-3%RH

      6、降溫速率:0.7℃~1℃(空載狀態(tài)下)

      7、升溫速率:1~3℃(空載狀態(tài)下)

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      高低溫試驗(yàn)箱溫濕度范圍

      溫度范圍: A:-20℃~150℃ B:-40℃~150℃ C:-60℃~150℃ D:-70℃~150℃

      溫度波動(dòng)度: ±0.5℃(常壓,空載)

      溫度均勻度: ±2℃(常壓,空載)

      溫度偏差: ±3℃(常壓,空載)

      升溫速率: 1.0~3.0℃/min

      降溫速率: 0.7~1.0℃/min

      壓力范圍: 常壓~0.5kPa

      壓力偏差: 常壓~40Kp:±1.8Kpa;40Kp~4Kpa:±4.5%;4Kp~0.5KPa:±0.1Kpa

      降壓時(shí)間: ≤45min(常壓~0.5kPa)

      小型高低溫試驗(yàn)箱用途:

        高低溫試驗(yàn)箱又名高低溫老化箱適用于儀器儀表、電工、電子產(chǎn)品、家用電器、汽摩配件、化工涂料、航空航天產(chǎn)品及其他相關(guān)產(chǎn)品零部件在高溫、低溫、濕熱的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在高溫、低溫、濕熱、條件下對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢測(cè),來(lái)判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用


      高低溫試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn):

      GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

      GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

      GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)

      GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

      GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

      GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

      GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

      GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

      GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備




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